UV754N紫外可見分光光度計產(chǎn)品詳細(xì)說明：

UV754N紫外可見分光光度計是一種能適應(yīng)現(xiàn)代分析實驗室運用光譜分析法對物質(zhì)進(jìn)行各種定性定量分析需要的低價格、高性能的分光光度計。廣泛應(yīng)用于環(huán)境保護(hù)、食品工業(yè)、石油化工、生物化學(xué)、大專院校及質(zhì)量控制等部門。

特點： 
采用先進(jìn)的全息閃耀光柵單色器，具有波長精度高，單色性好，雜散光低等優(yōu)點。 
一鍵實現(xiàn)自動調(diào)零和調(diào)滿度功能。 
嚴(yán)密的工藝及元件選擇，保證儀器測量系統(tǒng)的低漂移和低噪聲，使儀器具有超群的測量讀數(shù)重現(xiàn)性和穩(wěn)定性。 
大屏幕字符型液晶顯示器。 
數(shù)據(jù)打印和時間打印。 
待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法二種濃度線性回歸運算。 
獨特的自動消除比色皿誤差功能。 
配有高速熱敏打印機 
配合軟件UVWin7使用，拓展儀器的使用功能。 
UVWin7軟件包（另購）。

UV754N紫外可見分光光度計主要技術(shù)指標(biāo)； 
波長范圍；200nm～1000nm 
波長最大允許誤差：±2nm 
波長重復(fù)性：≤1nm 
透射比最大允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定） 
透射比重復(fù)性：≤0.2%（T） 
光譜帶寬：4nm 
雜散光: 0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定) 
穩(wěn)定性：暗電流漂移：≤0.2%（T）/3min 亮電流漂移：≤0.5(T)/3min